日本三豐378-087固定倍率觀察用相機卡口

 固定倍率觀察用相機卡口

在激光振蕩器配備規格的激光接口卡口上安裝 即為雙相機端口規格，可以使用兩臺相機觀察 同一部位。 適用于2/3型以下相機(C-Mount規格)。 

 貨號 378-087 重量：180g

憑借長動作距離設計的物鏡，實現優異的操作性。
與定位器、探針臺等組合。
通過與激光加工裝置組合，還可支持不良分析→部分修正無縫銜接的系統。
此外，還提供支持隔著玻璃的、真空內的外觀檢查的系統

 緊湊、輕巧的相機觀察顯微鏡
適用于金屬、樹脂、印刷表面、微小運動物體等各種觀察對象。
·適用于使用YAG激光(近紅外、可見、近紫外、紫外)的微細加工※ ※不保證激光振蕩器配備系統的綜合性能和安全性。
半導體電路的切割、修整、修正、打標、薄膜(絕緣膜)的去除和加工、液晶彩色濾光片等的修復(修正缺陷)等。
·適用于紅外光學系統※
硅類的內部觀察、紅外光譜特征分析等?！硇杓t外光源和紅外攝像機等。
·反射照明光學系統標配帶孔徑光闌遠心照明
需要均勻照明的圖像處理。可用于尺寸測量、形狀檢查、定位等。
·VMU-LB和VMU-L4B強化了顯微鏡主體的剛性和綜合性能(與以往產品相比)
·除標準規格外，還可按照需求設計制作雙相機、雙倍率(低倍率、高倍率)等產品

 1：使用物鏡M Plan Apo 1×時建議搭配使用偏光單元(No.378-710或378-715)。
注)在VMU-LB、L4B上安裝YAG激光振蕩器使用時， ·請注意激光輸入值和能量密度等。否則可能會導致光學系統受損。
·請確認激光振蕩器的重量。在高速、高加減速裝置上安裝時請進行咨詢。

  適用于1/2型以下的C-Mount相機。
聚焦單元B(378-706)請在需要大限度縮小安裝位置與VMU主體的間隔時使用。
搭配使用手動轉塔(378-707)時，請將轉塔安裝在VMU主體的正面。安裝方法請參照P.8。
不可與聚焦單元B(378-706)一起使用。
安裝方法請參照P.8。
 使用激光接口安裝C-Mount相機時使用。
請在2/3型以下的相機中使用。
本公司不提供，敬請咨詢。
安裝時可能另需適配器，敬請咨詢。

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Mitutoyo三豐顯微鏡單元

Mitutoyo三豐物鏡 紫外、近紫外、可視、近紅外

Mitutoyo三豐顯微鏡單元

日本三豐物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)

用于半導體、電子、液晶相關等產品的生產

品質管理系統、實驗研究裝置使用的光學系統

外觀檢查系統的嵌入式光學單元

微生物等運動物體的觀察　等

可安裝數碼相機，通過外部顯示器進行觀察和拍攝。

可實現橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。

與簡易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。

　★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝

　★微量流體分析用光學系統

　★以觀察和分析細胞、微生物等為目的的光學系統

M Plan Apo NIR系列等支持紅外區的物鏡組合，可在紅外線下實

現可見光下做不到的非破壞性檢查。

　★液晶薄膜、硅基板等的厚度測量

　★MEMS內部的非破壞評價、三維安裝評價

　★半導體封裝(IC)的內部觀察、晶圓鍵合空洞評價傳感器

　★紅外分光特性分析

緊湊、輕巧的相機觀察顯微鏡

　適用于金屬、樹脂、印刷表面、微小運動物體等各種觀察對象。

·適用于使用YAG激光(近紅外、可見、近紫外、紫外)的微細加工※ ※不保證激光振蕩器配備系統的綜合性能和安全性。

　半導體電路的切割、修整、修正、打標、薄膜(絕緣膜)的去除和加工、液晶彩色濾光片等的修復(修正缺陷)等。

·適用于紅外光學系統※

　硅類的內部觀察、紅外光譜特征分析等?！硇杓t外光源和紅外攝像機等。

·反射照明光學系統標配帶孔徑光闌遠心照明

　需要均勻照明的圖像處理。可用于尺寸測量、形狀檢查、定位等。

·VMU-LB和VMU-L4B強化了顯微鏡主體的剛性和綜合性能(與以往產品相比)

·除標準規格外，還可按照需求設計制作雙相機、雙倍率(低倍率、高倍率)等產品