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18511227625更新時間：2025-09-23
日本Mitutoyo三豐378-005干涉物鏡白色干渉測定用対物レンズ WLI Plan Apo
| 品牌 | MITUTOYO/日本三豐 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,生物產業,電子/電池,航空航天 |
日本Mitutoyo三豐378-005干涉物鏡
Mitutoyo三豐白光干涉物鏡 WLI Plan Apo 5x
日本Mitutoyo三豐378-005干涉物鏡替代尼康干涉物鏡
數值孔徑 (NA) 數值孔徑 (NA) 是決定物鏡分辨率、焦深、圖像亮度等的重要參數。數值孔徑 (NA) 用以下公式表示，該值越大，獲得的圖像分辨率越高，焦深越淺。N.A.=n?Sinθ n 是物鏡與樣品之間介質的折射率，空氣中 n=1.0。θ 是通過物鏡最外層的光線與透鏡中心（光軸）之間的夾角
場數（F.N. = Field Number）與實際視野 （1）顯微鏡可觀察到的標本范圍（直徑） ● 通過目鏡觀察時（貝雷克公式） 可觀察到的標本表面面積由目鏡視場光闌的直徑決定，以毫米為單位表示的這個尺寸稱為場數。實際視野是通過物鏡實際放大觀察到的物體表面的范圍。實際視野可以使用以下公式計算
焦深 (D.F. = Depth of Focus) 在顯微鏡下，即使焦平面在成像聚焦平面的前方或后方移動，仍能清晰地看到圖像的范圍。數值孔徑越大，焦深越淺。反之，焦深越深（數值孔徑越小），圖像的聚焦范圍越廣，在同一焦點處甚至可以看到微小的差異。由于人眼的調節能力存在個體差異，因此人們感知到的焦深也存在個體差異。目前，通常使用與實驗結果非常接近的貝雷克公式。立體顯微鏡等低倍鏡頭具有較深的焦深，這與相機術語景深同義
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